廠(chǎng)家現(xiàn)貨供應(yīng)二箱三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一種用于模擬和測(cè)試材料在溫度變化下的性能和可靠性的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。這種試驗(yàn)箱通常由兩個(gè)獨(dú)立的溫區(qū)（高溫區(qū)和低溫區(qū)）和一個(gè)用于放置試樣的中間區(qū)域組成，中間區(qū)域通常是一個(gè)可以移動(dòng)的提籃或平臺(tái)。

主要特點(diǎn)：

快速轉(zhuǎn)換：提籃可以在高溫區(qū)和低溫區(qū)之間快速移動(dòng)，實(shí)現(xiàn)快速的溫度沖擊，轉(zhuǎn)換時(shí)間通常在10秒以?xún)?nèi)。
溫度范圍：能夠模擬從極低溫度到高溫度的環(huán)境，例如從-40℃到150℃。
溫度恢復(fù)時(shí)間：溫度恢復(fù)時(shí)間較短，通常在5分鐘以?xún)?nèi)，這有助于提高測(cè)試效率。
節(jié)能設(shè)計(jì)：采用電子膨脹閥技術(shù)和創(chuàng)新控制系統(tǒng)，提高能效，降低能耗。
控制系統(tǒng)：通常配備有彩色觸摸屏控制，界面友好，具有參數(shù)記錄功能，便于操作和數(shù)據(jù)管理。
安全保護(hù)：具備多重保護(hù)措施，如過(guò)溫、過(guò)載、漏電等保護(hù)，確保試驗(yàn)過(guò)程的安全。
應(yīng)用領(lǐng)域：
二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于電子、航空航天、汽車(chē)、醫(yī)療、通信、半導(dǎo)體等行業(yè)，用于測(cè)試和評(píng)估材料、元器件、電子產(chǎn)品等在溫度急劇變化條件下的性能和可靠性。

技術(shù)規(guī)格：

測(cè)試區(qū)尺寸：根據(jù)不同型號(hào)，測(cè)試區(qū)尺寸會(huì)有所不同，以適應(yīng)不同大小的試樣。
溫度范圍：低溫沖擊范圍通常從-10℃到-55℃，高溫沖擊范圍從60℃到150℃。
溫度波動(dòng)度：通?？刂圃?plusmn;0.5℃以?xún)?nèi)。
溫度均勻度：空載時(shí)通常在2.0℃以?xún)?nèi)。
吊籃轉(zhuǎn)換時(shí)間：快速，一般在5秒以?xún)?nèi)。
溫度恢復(fù)時(shí)間：通常在3到5分鐘內(nèi)。
在選擇二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱時(shí)，應(yīng)考慮試驗(yàn)箱的尺寸、溫度范圍、轉(zhuǎn)換速度、溫度恢復(fù)時(shí)間、控制系統(tǒng)的先進(jìn)性以及安全保護(hù)措施等因素，以確保設(shè)備能夠滿(mǎn)足特定測(cè)試需求。

廠(chǎng)家現(xiàn)貨供應(yīng)二箱三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱-符合標(biāo)準(zhǔn):
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);
GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;
GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;
國(guó)標(biāo)GJB150.3-86;
國(guó)標(biāo)GJB150.4-86;
國(guó)標(biāo)GJB150.5-86;